W dniach 12-14 czerwca 2023 r. odbyła się XX Jubileuszowa Konferencja Naukowa „Optymalizacja Systemów Produkcyjnych w Odlewniach”. Honorowym patronatem wydarzenie objął JM Rektor Politechniki Łódzkiej prof. dr hab. inż. Krzysztof Jóźwik, który swoją obecnością uświetnił otwarcie Konferencji.
Konferencja Naukowa „Optymalizacja Systemów Produkcyjnych w Odlewniach” organizowana jest od roku 2001 przez Katedrę Technologii Materiałowych i Systemów Produkcji Politechniki Łódzkiej pod auspicjami Komisji Odlewnictwa PAN, Oddział Katowice.
Tematyka Konferencji obejmuje zagadnienia związane z funkcjonowaniem przedsiębiorstwa związanego z branżą odlewniczą jako szeroko pojętego systemu produkcyjnego.
Sukces naszej Konferencji od 20 edycji to zawsze wspaniali uczestnicy, którzy przez lata tworzyli tę szczególną atmosferę, wspaniali naukowcy i przedsiębiorcy z wielu ośrodków w Polsce i za granicą. To Oni odpowiadają za prestiż tego wydarzenia, nadając mu wyjątkowy merytorycznie charakter i tworzą niezwykle przyjacielską atmosferę
Swoją obecnością uświetnili nasze wydarzenie wybitni przedstawiciele m.in.: Akademii Górniczo-Hutniczej, Politechniki Śląskiej, Warszawskiej, Częstochowskiej, Poznańskiej, Bydgoskiej, Rzeszowskiej, Świętokrzyskiej, Krakowskiego Instytutu Technologicznego, Collegium Witelona, Akademii Nauk Stosowanych im. Jana Amosa Komeńskiego w Lesznie.
Myślą przewodnią organizowanej Konferencji było zawsze łączenie środowiska naukowego z otoczeniem gospodarczym, by osiągnięcia naukowe były aplikowane w przedsiębiorstwach. W tym celu naszą Konferencję wspierali i wspierają znakomici przedstawiciele firm, m.in.: Spółdzielnia Pracy Armatura, Ferro-Term Sp. z o.o. Łódź, SILUM Sp. z o.o., PIW WIFAMA Sp. z o.o., KOM-ODLEW Sp. z o.o., P.P.P. IdeaPro Sp. z o.o., SPECTRO POLAND Sp. z o.o., LENSO Sp. z o.o., Odlewnia Żeliwa Bolimów, Z-TECH Gliwice, Zakład Elektroniki i Automatyki Przemysłowej "ELKON" Sp. z o.o., BILPLAST S.A., COMMON S.A., KEYENCE INTERNATIONAL, SPINKO Sp. z o.o., Magna Casting Poland, TECHNO-FLY.
Image
Image
Image
Image
Image
Image
Image
